AgilentTechnologies présente la plateforme de test in-situ Medalist i5000

Agilent Technologies Inc présente un système de test in-situ (ICT : in-circuit-test) d'un excellent rapport temps/argent pour les circuits imprimés grâce aux nouveau logiciel et architecture d’appareil. Le Medalist i5000 d’Agilent fournit des larges fonctionnalités de test dans des configurations modulaires et évolutif, permettant un très haut dégrée de flexibilité opérationnelle dans l'industrie du test in-situ. Cette flexibilité est essentielle pour les constructeurs en électronique qui doivent vérifier rapidement et avec précision la qualité de leur circuits imprimés.

Un système qui réduit considérablement le temps d'élaboration de programmes de test et d’interfaces

« Le système d'exploitation temps/argent d'Agilent réduit considérablement le temps d'élaboration de programmes de test et d’interfaces comparé aux systèmes traditionnels de test in-situ » souligne Jack Trautman, président du « Automated Test Group » d'Agilent. « Le Medalist i5000 ramène la durée de cycle typique à cinq à sept jours pour un circuit imprimé de complexité moyen comparé aux neuf ou 10 jours exigés par d’autres testeurs du marché. Le rapport de 1:1 du canal hybride et de test par point permet aux concepteurs de test d'assigner les ressources de test sans se soucier de la localisation des ressources, ainsi des interfaces de test peuvent être conçues parallèlement au développement des tests. »

L’utilisation et le déploiement du système de Medalist i5000 est très simple, même avec peu d’expérience dans le test in-situ. Le logiciel de développement de test automatisé et une nouvelle architecture testeur par point non multiplexé fournissent aux fabricants électroniques une solution qui accélère le développement de tests et d’interfaces tout en simplifiant considérablement les mises à jour techniques. Tous les tests sont transportables, stables et répétables et peuvent être portés d’un testeur à un autre, entre lignes ou sites sans l'impact sur la qualité du test.

La disponibilité du system de test in-situ Medalist i5000 d’Agilent est annoncée pour juin 2005.