Home Accueil
Agenda Salons
Annonces Offres
Qui est qui en T & M ?
Archives Actualités
actualites du test, de la mesure et de l'électronique - le journal T&M electronique gratuit du net

 


dBCalc un calculateur pour l'électronicien radio


Valeur crête, moyenne et efficace d'une tension AC


Nous écrire : rédaction



Abo gratuit : Newsletter
 

Catégorie : Test & Mesure       23/04/2005

Advantest : nouveaux testeur de mémoire T5372 pour DRAM, SDRAM, DDR-SDRAM, mémoires flash et autres puces mémoires

Assisted GPS
Photo : Advantest

Le nouveau testeur de mémoire T5372 d'Avantest permet de réduire de plus de 30% le temps de test de wafer, du package test de DRAM, SDRAM, DDR-SDRAM, des mémoires flash et d'autres puces mémoires à utilisation générale ainsi que des circuits mémoires spécifiques, tels que les MCPs (Multi-Chip Packages)

Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), leader mondial d'équipements de test pour l'industrie de semi-conducteurs et un des principaux fournisseur des systèmes de test de « system-on-chip » (SoC), annonce la disponibilité d'un nouveau testeur de mémoire, le T5372, qui permet de réduire le temps de test de plus de 30% .

Basé sur la demande des PC et des téléphones cellulaires, le marché des semi-conducteurs pour utilisation dans les PDA et l'électronique grand public en général a explosé littéralement ces dernières années et continue à se développer rapidement, d'où une concurrence accrue. Les fabricants d’équipements électroniques cherchent donc à augmenter la compétitivité de leurs produits en ajoutant des fonctions, en améliorant la performance et en diminuant les prix. En outre, les fabricants de mémoires doivent augmenter la capacité en vitesse et en mémoire tout en améliorant le rapport performances / prix.

Le T5372 d’Advantest affiche une vitesse de test jusqu'à 143 / 286 MHz (en mode de DDR) - deux fois plus rapides que son prédécesseur, le T5371 - qui lui permet de tester les dispositifs d'une vitesse de plus en plus élevée. En outre, ses fonctions optionnelles d'analyse de défaut, telles que son « Fail Bit Compress Engine » (qui accélère la transmission des informations d'échec) et son « Address Fail Memory » (qui permet l'opération dual-mode d’erreur partielle de mémoire) réduisent la durée de tests wafer d’environ 30%.

Comportant une capacité parallèle de test de 128 dispositifs, le T5372 est disponible avec une ou deux stations de test, chacune disposant d’un maximum de 32 unités DC et de 128 alimentations programmables.

Le T5372 maintient la compatibilité avec son prédécesseur, le T5371, et peut donc être utilisé avec les outils existants du client, notamment les cartes de programmes et de sonde de test, permettant ainsi une mise à niveau dans la continuité.

Notons que le prix du T5372 est de 65 millions ¥ (469 500 €) et que Advantest s'est fixé un objectif de ventes de 40 unités pour la première année.



Advantest


Livingston Test et Mesure, location, occasion et rachat




TEMCOM
Test & Mesure
Conseil
Formation
Traduction