Catégorie : Test & Mesure     11/11/2006

Keithley Instruments, Inc. : partenariat avec le français Mesatronic

La DOD Technology® du français Mesatronic - basée sur un procédé semi-conducteur et breveté à travers le monde - peut contacter des pad en Aluminium, en Or ou en Cuivre

L'américain Keithley vient d’annoncer un accord de partenariat avec le groupe français Mesatronic pour développer des cartes à pointes permettant de réaliser des mesures simultanées RF et de courant continue de faible intensité avec ses testeur paramétrique de semi-conducteurs .

Selon William Merkel, directeur du marketing Groupe de produits de Test paramétrique chez le fournisseur de solutions de test et mesure Keithley Instruments, Inc. : "Les nouvelles cartes à pointes, disponibles à la fin de cette année, seront utilisées avec les testeurs paramétriques de Keithley pour la mesure simultanée des paramètres RF et DC de très bas niveau, sur toute combinaison des pointes qui entrent en contact avec le wafer semi-conducteur. Cette nouvelle conception des cartes à pointes permettra ainsi d’obtenir une cadence de test plus élevée car les tests RF et DC peuvent être réalisés avec une seul insertion du wafer."

Les pointes pour ces cartes conviendront également aux pads de test de 30 microns vers lesquelles l'industrie émigre. Réaliser des mesures simultanées RF et de DC à faible intensité est jusqu’à ce jour compliqué par le fait que les cartes existantes ne disposent que de quelques pointes RF dédiées et elles ne peuvent pas être utilisés pour des mesures DC précises de faible intensité.

L’élément clef du développement de cette nouvelle carte à pointe est la conception d'un transformateur spatial qui interconnecte la carte à pointes avec une structure de circuit à membrane flexible au centre de l’interface où les aiguilles sont fixées.

La DOD Technology® ("Die-On-Die") de Mesatronic de technologie verticale sera utilisé dans les nouvelles cartes à pointe avec une longueur de scrub très réduite, appropriée aux pads de 30 microns. La technologie conventionnelle est actuellement limitée à des de pads >50 µm.

Pour plus d'informations : www.Keithley.com   www.Mesatronic.com