Catégorie : Test & Mesure     17/12/2006

Keithley : nouvelle version de logiciel de test pour mesures en mode pulsé

Le nouveau logiciel KTEI 6.1 étend les possibilités de mesure I - V en mode pulsé du modèle 4200-PIV et améliore de manière significative la mesure d'impulsions et la corrélation DC

Keithley annonce une version améliorée de son logiciel de mesure KTEI (Keithley Test Environment Interactive) en mode pulsé pour le système de caractérisation de semi-conducteurs modèle 4200-SCS.

Le nouveau logiciel KTEI 6.1 étend les possibilités de mesure I - V du modèle 4200-PIV en mode pulsé et améliore de manière significative la mesure d'impulsion et de corrélation DC, indique la société.

Les mesures en mode pulsé deviennent une technique de plus en plus importante pour la caractérisation semi-conducteurs. Les impulsions rapides éliminent des dommages potentiels des effets auto-chauffants et sont employées pour caractériser des nouveaux matériaux et dispositifs dans les applications telles que la caractérisation de phénomènes de capture de charge des empilements High-k gate. Le 4200-PIV de Keithley étend les possibilités du modèle 4200-SCS en y incluant la génération et l'analyse d'impulsion.

Pour plus d'informations : Keithley.fr