Catégorie : Test & Mesure     06/02/2006

NI : facilite l'extraction de données de test avec DIAdem 10.0

National Instruments annonce DIAdem 10.0, dernière version du logiciel interactif d'inspection et d'analyse de données et de génération de rapports, pour faciliter l'extraction de données de test. Cette nouvelle version inclut l'outil DIAdem DataFinder, qui permet d'effectuer des recherches dans les fichiers de données, quels que soient leurs formats, à la manière des moteurs d'Internet. DIAdem DataFinder offre des fonctionnalités sophistiquées sans les problèmes de maintenance des solutions de gestion de données IT traditionnelles.

DIAdem a toujours fait gagner du temps à ses utilisateurs. "En utilisant NI DIAdem, quelques minutes suffisent pour transformer nos données brutes en résultats exploitables, au lieu de quelques jours auparavant" témoigne Jim Knuff, ingénieur système chez Raytheon Missile Systems. "Nous avons ainsi obtenu un gain de temps global de 90% depuis que nous avons intégré NI DIAdem dans notre système."

DIAdem DataFinder permet notamment de mettre en lumière des anomalies ou des tendances qui n'étaient pas visibles auparavant. Cette caractéristique est particulièrement utile aux professionnels techniques qui doivent analyser des données de simulation et de mesure, produire des rapports, faire des recommandations sur la base des résultats et partager leurs découvertes avec leurs collègues.

DIAdem 10.0 enrichit la suite de solutions de gestion de données de test proposées par National Instruments. Les ingénieurs peuvent utiliser les VIs LabVIEW d'enregistrement de données pour documenter leurs données de test, les fichiers de format TDM pour capturer les informations de test importantes, et maintenant DIAdem 10.0 pour extraire l'information utile de ces fichiers.

Pour davantage d'informations sur DIAdem et les nouveautés de la version 10.0, visiter www.ni.com/diadem