Catégorie : Test & Mesure     08/02/2006

NI : le kit DSP TI C55X surveille sa consommation avec LabVIEW

Outre un gain appréciable de temps de développement, le DSK offre une excellente visibilité de la consommation électrique, participant ainsi à la réalisation des designs d’une plus grande efficacité

National Instruments annonce sa collaboration avec Texas Instruments et Spectrum Digital pour le développement du nouveau TI C55X Power Optimization DSP Starter Kit (DSK), premier outil de conception DSP de l'industrie intégrant une fonctionnalité Test & Mesure.