Catégorie : Test & Mesure     25/03/2006

IEEE : prévoit une norme CEM pour les sous-ensembles électroniques remplaçables

Crédit Photo : Siepel

Les normes CEM actuels prescrivent les mesures à effectuer et les gabarits à respecter pour les produit électroniques autonomes. L'IEEE a décidé de s'attaquer à l'épineux problème de la qualification CEM des sous-ensembles électroniques et présentera une norme (IEEE 1688) pour les essais d’immunité et d’émissivité rayonnées et conduites sur modules électroniques remplaçables.

Les normes CEM telles que les EN, GAM-EG13, MIL-STD-461 etc... prescrivent les mesures à effectuer et les gabarits à respecter pour les produit électroniques autonomes et ce aussi bien en immunité qu'en émissivité.

Ces normes, qui concernent des produits autonomes, n’indiquent cependant ni gabarits, ni méthodes de test CEM pour les systèmes électroniques à modules électroniques remplaçables, utilisés notamment dans les ordinateurs, automobiles et réseaux de télécommunications…

Le groupe IEEE-EMC a décidé de s'attaquer à cet épineux problème et présentera une norme avec les méthodes et gabarits pour des essais normalisés d’immunité et d’émissivité rayonnées et conduites sur ces modules électroniques remplaçables.