Catégorie : Test & Mesure     29/03/2006

Agilent : vise le marché des équipements de test automatique (ATE) « low cost »

Agilent 93000 Compact Test Head

La tête de test compacte 93000 (CTH - Compact Test Head) d’Agilent vise le marche ATE « low cost » pour circuits intégrés grand public à signaux numérique et mixtes, aussi bien au niveau du test wafer que du test final. Entièrement compatible avec les autres solutions de la plateforme Agilent 93000 à architecture évolutive, la CTH supporte les voies numériques Pin Scale, BIST Assist 6.4 et les modules analogiques avancés tels qu'Audio/Vidéo 8 et la RF test suite.

Agilent Technologies a annoncé à l’occasion de SEMICON Shanghai un équipement pour le marché d'équipements de test automatique (ATE) d’entrée de gamme. Par l'introduction de la tête de test compacte 93000 (CTH) le constructeur américain vise le test de circuits intégrés grand public à signaux numérique et mixtes. Agilent a conçu ce produit pour sa plateforme 93000 évolutif afin de satisfaire les besoins croissants des fabricants des solutions peu onéreuses pour tester les « systèmes sur une seule puce » (SOCs) complexes et très performants, utilisés dans l'électronique grand public.