Catégorie : Test & Mesure     13/10/2006

Forum ATE : exposition et conférences techniques organisées par des spécialistes du test automatique

Plusieurs spécialistes du test électronique, dont Arcale, JTAG Technologies, Konrad Technologie, Mesulog, ST Microelectronics, Technicome.com, Virginia Panel et National Instruments se réunissent, le 28 novembre prochain à Versailles (Palais des Congrès) pour une journée d'information technique.

En parallèle d'une exposition de moyens et de solutions de test automatique, les visiteurs pourront assister à diverses conférences techniques, dont les suivantes :

• "Choix de la technologie de bus la mieux adaptée (USB, PCI, PCI Express, LAN/LXI, PXI, PXI Express)" par Marc Djaoui (National Instruments)
• "PXI Mass Interconnect Technology" par Philippe Devarieux (TECHNICOME.COM)
• "Des instruments encore plus performants" par Étienne Suc (National Instruments)
• "PXI Express : intégration du PCI Express dans un châssis PXI" par Marc Djaoui (National Instruments)
• "Validation de circuits à signaux mixtes destinés à la téléphonie mobile" par Sébastien Cany (ST Microelectronics)
• "Démonstration autour des assistants d'utilisation de l'instrumentation modulaire, sous NI LabVIEW" par Étienne Suc (National Instruments)
• "Adaptation du séquenceur de tests NI TestStand aux besoins spécifiques" par Jean-Philippe Villemagne (Arcale)
• "Simplification de la création de séquences de caractérisation et de validation avec TS+, toolset pour NI TestStand" par Jean-Louis Schricke (Mesulog)
• "Bus analogique et conception de matrices de commutation PXI" par Laurent Chatard (Konrad Technologie)
• "Principes du Boundary-Scan et intégration dans une plate-forme PXI et LabVIEW, LabWindows/CVI ou NI TestStand" par Victor Fernandes (JTAG Technologies)
• "Exemple d'utilisation de système hybride" par un Partenaire Alliance de NI