Catégorie : Test & Mesure     10/02/2007

LeCroy : Recherche de défauts sur circuits logiques à l’aide d’oscilloscopes numériques

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Caractériser les instabilités du signal. Mesurer des faibles signaux en présence de bruit. Observer des perturbations récurrentes. Caractériser une série de salves. Localiser des incohérences de signaux dues à des parasites. Vérifier des séquences de transition dans des circuits logiques. Tester une séquence de mise sous tension. Analyser la cohérence de signaux de données et d’horloges Vérifier les données écrites sur un FPGA.

Avec la constante évolution industrielle, les ingénieurs d’études doivent aujourd’hui caractériser en permanence de nouvelles technologies utilisant des logiques de plus en plus rapides et beaucoup plus complexes qu’auparavant.

Dans l’industrie des ordinateurs, des systèmes de communication, et autres secteurs des technologies numériques, un large éventail de mesures est requis pour assurer une fiabilité accrue des équipements.

Les familles logiques actuelles permettent de produire des flux de données particulièrement sophistiqués, avec des transitions rapides sur des débits totalement indépendants. Ainsi, ces conditions de fonctionnement spécifiques lancent de nouveaux défis de mesures, particulièrement bien résolus par un oscilloscope numérique. Pour aider l’ingénieur à aborder ces problèmes complexes, un choix important de conditions de déclenchement doit être disponible pour permettre la capture de l’événement unique que l’utilisateur veut analyser.

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