Catégorie : Test & Mesure     28/04/2007

Agilent : testeur in-situ économique pour les ODM

Medalist i1000 de Agilent Technologies Inc.

Medalist i1000 permet notamment les tests des BGA et flip chips et intègre la suite de test « vectorless » VTEP v2.0 comportant en outre le iVTEP ainsi que la nouvelle technologie de mesure de paramètres de réseau.

Agilent Technologies Inc. vient de présenter un testeur in-situ économique pour les Original Design Manufacturers (ODM) qui recherchent le « juste test ». Le nouveau système fournit des moyens rentables pour obtenir la confiance la plus élevée en testant les cartes mères de PC et de l’électronique grand publique.. À la différence des systèmes de test d'analyseur de défauts de fabrication (MDA) et d'autres systèmes de test in-situ (ICT) qui utilisent la technologie TestJet plus, le Medalist i1000 offre la suite de test « vectorless » VTEP v2.0 d'Agilent. VTEP v2.0 et comporte en outre le iVTEP ainsi que la nouvelle technologie de mesure de paramètres de réseau. Il permet notamment les tests des BGA et flip chips et l’alimentation des produits grand public et des PC de bureau.

Compatible avec la plupart des interfaces MDA, le Medalist i1000 d'Agilent assure la pérennité de l'investissement des constructeurs souhaitant l'amélioration des capacités de test de leur MDA existant.

Pour plus d'informations, rendez-vous sur le site Agilent