Keithley : partenariat avec le LETI du CEA Grenoble concernant la technologie de test des matériaux pour les composants et semi-conducteurs
Keithley Instruments annonce un partenariat de développement avec le LETI du CEA Grenoble concernant la technologie de test des matériaux pour les composants et semi-conducteurs. Ce partenariat est en fait un rapprochement entre Keithley et le LETI pour la recherche des méthodes de caractérisation des matériaux utilisés par les semi-conducteurs les plus avancés et les composants dans une gamme de signaux allant du DC à la haute fréquence en passant par la RF et portant à la fois sur les micro et nano-structures. Le LETI utilisera les équipements de test des semi-conducteurs RF produits par Keithley comme contribution importante à son vaste programme de projets de recherche en vue d'étendre et d'améliorer la connaissance des performances des composants semi-conducteurs capables de hautes performances aux niveaux les plus élevés.
Le LETI est un laboratoire du CEA situé à Grenoble et l'un des principaux centres de recherche européens en électronique. Son activité est consacrée à plus de 85% à la recherche qui est finalisée avec des partenaires extérieurs. Le LETI compte 1 000 employés qui travaillent avec 200 partenaires et est à l'origine de 1 300 inventions brevetées.
De son côté, Keithley occupe une position de leader pour la fiabilité des mesures sur les semi-conducteurs RF depuis la commercialisation de son premier système de test paramétrique industriel, capable d'effectuer des tests RF en production au niveau des chips avec son modèle S680 DC/RF. Ce dernier réunit en un seul système les fonctionnalités de test en parallèle ; il possède en outre, une grande sensibilité en DC, une résolution de l'ordre du femto-ampère et peut faire des mesures RF sur des paramètres « s » dans une gamme allant jusqu'à 40 GHz. Ceci apporte aux industriels la cadence de mesure la plus élevée pour un faible investissement allant jusqu'au nœud de 65 nm et au-delà.
"Du fait que la technologie repousse toujours plus loin les limites de fonctionnement des composants pour le traitement des signaux RF ainsi que la miniaturisation des composants pour le niveau nano, la technologie de la mesure doit non seulement suivre le rythme mais aussi guider les chercheurs dans la fabrication et le test de ces composants" souligne Mark Hoersten, vice président de Keithley et directeur développement d’affaires. "Notre partenariat avec le LETI est une occasion unique de créer une nouvelle technologie de mesure au moment où la technologie d'un grand nombre de nos clients converge à la fois sur les semi-conducteurs, la RF et le sans fil et la nanotechnologie".
"La capacité à réaliser des mesures électriques de grande qualité est un point crucial pour faire avancer les initiatives vers le "Toujours Plus" ou "Plus que Plus" constate Olivier Demolliens, directeur de la division Nanotech au LETI. "Nos spécialistes des mesures électriques ont besoin des données les plus fines pour comprendre, modéliser et améliorer nos composants. Le partenariat avec Keithley rend maintenant possible l'aide au développement et renforce la technologie des mesures pour faire coïncider les besoins de la recherche et des spécialistes dans l'industrie. En conséquence, c'est un bonus extrêmement important pour le LETI et le CEA d'avoir partie liée avec une société reconnue pour la qualité de ses mesures, telle que Keithley".
Le partenariat Keithley-LETI arrive à un moment où ce dernier renforce son investissement dans la nanotechnologie avec l'ouverture de son nouveau centre d'innovations MINATEC®. Le LETI est l'un des principaux artisans de la formation du MINATEC®, qui doit devenir le principal Centre européen de l'Excellence en matière de Micro et Nanotechnologie. Ce centre rassemblera plus de 4 000 chercheurs, industriels et enseignants à Grenoble. Le LETI indique que le MINATEC® concentrera les activités des chercheurs, enseignants et fabricants qui travailleront dans les domaines de la micro et nanotechnologie et seront regroupés sur un seul campus, ce qui favorisera l'instauration et le développement d'initiatives conjointes en vue d'augmenter et d'accélérer le rythme des innovations et mises en valeurs pour l'industrie.
En plus de l'architecture du test paramétrique, la distinction dont le système de caractérisation des semi-conducteurs, modèle 4200-SCS a fait l'objet, joue un rôle important dans la caractérisation des composants en tant qu'outil qui s'avère particulièrement utile pour les mesures par impulsions de composants miniaturisés et fragiles. Le modèle 4200-SCS est un système de laboratoire qui intègre étroitement les fonctionnalités de mesure en DC et par impulsions; il est livré avec des kits d'applications complets afin d'offrir au client une solution "clé en main". L'ensemble 4200-SCS Impulsions I-V comporte les accessoires d'instrumentation, les connexions et le logiciel permettant aux ingénieurs des semi-conducteurs de faire des mesures par impulsions ultra courtes sur de petits transistors alors qu'ils se trouvent encore sur le chip de circuits intégrés.
