Catégorie : Test & Mesure et Electronique     01/10/2007

NI : Journées Technologiques de l’Instrumentation les 23 octobre à Rennes et 25 octobre à Bordeaux

National Instruments France organise les mardi 23 et jeudi 25 octobre 2007, respectivement à Rennes et Bordeaux, deux journées destinées à faire le point sur les tendances et l’avenir de l’instrumentation de mesure.

Lors de ces journées à caractère essentiellement technique, les auditeurs découvriront comment tirer avantage des nouvelles technologies informatiques et comment utiliser les instruments à travers différentes applications. Les présentations seront d’ailleurs illustrées de nombreuses mises en œuvre de matériels et d’exemples d’applications concrets.

Au programme :
De 9h00 à 12h00 : les nouvelles technologies

• Microsoft Vista : tour d’horizon et avantages (avec démonstration)
• Les processeurs multicœurs : architecture de demain (avec démonstration)
• PCI Express : impact dans le monde du test et de la mesure (avec démonstration)
• L’enregistrement rapide de données : les différentes solutions jusqu’à 500 Mo/s (avec démonstration)

• Les nouvelles cartes instruments
• Caractérisation de composants et test de semi-conducteurs : synchronisation, oscilloscopes, générateurs arbitraires, alimentations programmables, commutation…
• Génération I et Q
• Entrées/Sorties numériques rapides : analyseurs logiques, interfaçage avec un composant, I2C, test de Bert…
• Services et technologies complémentaires : JTAG, maintenance, métrologie…