Catégorie : Test & Mesure et Electronique     17/10/2007

NI : organise le Automated Test Summit paneuropéen virtuel

Automated Test Summit paneuropéen

NI organise le premier Automated Test Summit paneuropéen, un événement virtuel d’une journée, en partenariat avec des acteurs majeurs du monde du test pour partager leurs expériences en matière de conception de systèmes automatisés

National Instruments organise le premier Automated Test Summit paneuropéen, un événement en ligne sur Internet, composé de sessions techniques sur les tendances et les nouveaux défis du test automatisé. Accessible gratuitement, et confortablement assis devant son ordinateur, cet événement aura lieu de 27 novembre prochain à 9 heures, et s’étendra tout le long de la journée. Les participants pourront assister aux présentations stratégiques (keynotes) et aux conférences techniques, participer à des forums en direct, sous la forme de Questions-Réponses, et interagir avec des fournisseurs dans la zone d’exposition virtuelle. Le contenu de cet événement sera accessible sur demande 30 jours après le Jour J.

Les réprésentants de sociétés comme Averna, Intel, Microsoft, National Instruments et Texas Instruments partageront leurs savoir-faire techniques et leurs expériences lors de cet événement. Mike Santori, Responsable Business et Technologies chez NI, ouvrira la journée avec un keynote intitulé "Developing Next-Generation Test Systems" et Marvin Landrum, Responsable Infrastructure d’Automatisation chez Texas Instruments, présentera le keynote de l’après-midi intitulé "Strategies for Developing a Global Test Program". Les sessions de conférences techniques traiteront des sujets suivants :

• Stratégies économiques pour la conception de systèmes de test
• Comment concevoir des systèmes de test réutilisables
• Techniques pour maintenir la précision et la disponibilité des systèmes
• Trucs et astuces pour intégrer des plates-formes d’instrumentation hétérogènes