Catégorie : Test & Mesure     29/02/2008

MB organise une conférence "Caractérisation paramétrique et microondes" conjointement avec Agilent, Cascade Microtech et le L2E

La société MB Electronique nous informe qu'une conférence « Caractérisation paramétrique et microondes » est organisé pour le jeudi 20 mars prochain à l’Université de Pierre et Marie Curie (UPMC), conjointement avec Agilent Technologies, Cascade Microtech et le L2E (Laboratoire d’Electronique et d’Electromagnétisme) de l’UPMC.

Le thème défini pour cette journée, "De la conception à la caractérisation", permettra aux Ingénieurs et Chercheurs d’échanger avec leur confrères les problématiques auxquelles ils sont confrontés.

Le programme comprend les présentations suivantes :

• Diode Modeling Strategy / Solutions for On-wafer measurements to 325GHz
• Advances in Pulsed S-parameter Measurements
• Solutions for Precise IV & CV Parameter
• Characterisation to ‘Atto’ Levels
• De la caractérisation à la modélisation électrique de transistors à base de nitrure de gallium .