Catégorie : Test & Mesure     23/05/2008

Conférence « Caractérisation paramétrique et microondes »

La première conférence sur la caractérisation paramétrique et microonde se déroulera à l'Université Pierre et Marie Curie (dans les voûtes du bâtiment Esclangon et dans l'amphithéâtre Herpin) le mercredi 11 juin 2008.

Le thème défini pour cette journée « De la conception à la caractérisation » vous permettra d’échanger avec vos homologues les défis auxquels vous êtes confrontés chaque jour.

Le programme comprend les présentations suivantes :

Diode Modeling Strategy / Solutions for On-wafer measurements to 325GHz / Advances in Pulsed S-parameter Measurements / Solutions for Precise IV & CV Parameter Characterisation to ‘Atto’ Levels / De la caractérisation à la modélisation électrique de transistors à base de nitrure de gallium.

Celles ci seront complétées par des workshops illustrant de manière pratique les théories présentées.

Cette journée est organisée conjointement avec MB Electronique / Cascade, Agilent Technologies et le L2E, Laboratoire d’Electronique et d’Electromagnétisme de l’université Pierre & Marie Curie.

Pour en savoir plus sur cette journée : Invitation.