JTAG Technologies élimine la barrière entre test fonctionnel et boundary-scan
Le nouveau contrôleur JT 37x7/RMI (Rack-Mounted Instrument) se présente au format standard 19 pouces 1U, compatible avec pratiquement tout système de test fonctionnel monté en rack. Le RMI prend en charge toutes les applications de test boundary-scan (test de réseaux numériques avancés IEEE 1149.6, programmation in-situ de mémoires flash et de composants logiques programmables).
JTAG Technologies, fournisseur de solutions de test et programmation in-situ de cartes électroniques reposant sur la norme IEEE 1149.x, s’attaque à la barrière entre test structurel et test fonctionnel. Avec l’annonce du dernier né de sa gamme de contrôleurs boundary-scan hautes performances DataBlaster, il devient très simple pour les fabricants électroniques de combiner les performances et la couverture du test boundary-scan avec la validation fonctionnelle.
Le nouveau contrôleur JT 37x7/RMI (Rack-Mounted Instrument) se présente au format standard 19 pouces 1U, compatible avec pratiquement tout système de test fonctionnel monté en rack. Le RMI prend en charge toutes les applications de test boundary-scan (test de réseaux numériques avancés IEEE 1149.6, programmation in-situ de mémoires flash et de composants logiques programmables). Avec ses quatre ports TAP entièrement conformes à la norme boundary-scan, il garantit une excellente intégrité du signal au niveau de la cible. En outre, il offre 256 entrées-sorties (E/S) programmables afin d’améliorer encore la couverture du test.
Les ports TAP et les E/S sont disponibles en façade, les premiers pouvant être combinés aux fins de test ou exploités en mode gang pour accélérer le débit des tests et de la programmation in-situ. Les ports TAP peuvent également être prolongés par des câbles plats en face avant pour satisfaire des exigences spéciales en matière d’interface de test. Les canaux d’E/S sont programmables séparément comme entrée, sortie, voie bidirectionnelle ou à trois états, et les seuils de tension peuvent être paramétrés sur 1,5, 1,8, 2,5 ou 3,3 V pour correspondre aux familles modernes de circuits logiques basse tension. Pour raccourcir la chaîne boundary-scan et améliorer l’efficacité du test, il est possible de contourner un nombre quelconque de groupes de 16 canaux.
Le RMI est alimenté à partir de l’ordinateur hôte et s’interface avec ce dernier via trois formats standard (USB 2.0, Ethernet 10/100, IEEE 1394 Firewire), ce qui lui confère un champ d’application quasi-universel et une grande facilité d’utilisation. La fréquence d’horloge de test est programmable jusqu’à 40 MHz, ce qui autorise une exécution très rapide des applications, un aspect particulièrement important pour la programmation flash, tandis que les tensions TAP peuvent être configurées en fonction d’un large éventail de caractéristiques d’entrée-sortie.
Le RMI répond à la nécessité de combiner parfaitement les opérations boundary-scan avec le test fonctionnel, dans la mesure où il est indépendant de la plate-forme, aussi à l’aise en environnement de test PXI, VXI ou PCI. De plus, le contrôleur étant totalement autonome, sans unités auxiliaires, il peut se déplacer facilement entre les stations de test. Enfin, en dehors des montage en rack, il se prête idéalement aux applications sur établi.
Le nouveau contrôleur est entièrement compatible avec l’ensemble des outils de développement de JTAG Technologies, notamment JTAG ProVision™ et JTAG Visualizer. En combinaison avec le test fonctionnel, le RMI fonctionne de manière transparente avec les architectures les plus répandues du marché, à savoir National Instruments LabVIEW, LabWindows et TestStand, ainsi que les systèmes de test maison programmés en C/C++ ou Visual Basic. Tarifé à partir de 6500 dollars, le JT 37x7/RMI est disponible immédiatement.
Pour plus d’informations, rendez-vous sur
www.jtag.com.
Abonnement gratuit
