Home Accueil
Agenda Salons
Annonces Offres
Qui est qui en T & M ?
Archives Actualités
Newsletter gratuite
Page de Liens
Bourse de l'emploi
Nous Contacter
actualites du test, de la mesure et de l'électronique - le journal Test et Mesure Electronique gratuit du net

 
 Abonnement gratuit


dBCalc un calculateur pour l'électronicien radio
Calculateur dB




Valeur crête, moyenne et efficace d'une tension AC
Valeur crête, moyenne et efficace d'une tension




     Agilent WiMAX

Catégorie : Test & Mesure     14/08/2008

Tektronix Communications : rejoint LSTI pour le test d’interopératibilité de systèmes mobiles haut débit LTE

Tektronix Communications nous informe qu’il rejoint le Long Term Evolution / System Architecture Evolution (LTE/SAE) Trial Initiative (LSTI), une initiative de collaboration mondial pour l'accélération de la disponibilité des communications LTE interopérables de la prochaine génération de systèmes mobiles haut débit.

Le LSTI a été créée en mai 2007 et regroupe les principaux fournisseurs de matériel de télécommunications, d’appareils de mesure (Agilent, Rohde&Schwarz et Tektronix) et les opérateurs avec l’objectif d’accélérer le développement de la prochaine génération de réseaux mobiles haut débit et des technologies 3GPP LTE et SAE.

La technologie LTE se positionne comme un standard global pour les réseaux mobiles large bande. Elle a pour objectif d’atteindre, en pointe, des débits descendants de 100 Mbps et montants de 50 Mbps, avec des possibilités d'évolution jusqu'à 300 Mbps descendants en utilisant la technologie OFDMA notamment.

Pour plus d'informations rendez-vous sur le site de
http://lstiforum.org



Anritsu

Nouvelle





Styrel technologies - Formations LabVIEW
 Alimentations Delta Elektronika










TEMCOM
Test, Mesure & Radiocom
Conseil - Formation - Traduction