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     Journée Test et Mesure SIMTEC

Catégorie : Test & Mesure     14/11/2008

Conférence « LTE (UTRA Long Term Evolution) & Broadband Wireless Networks»

Le thème défini pour cette journée organisée conjointement par MB Electronique/Elektrobit et Anritsu France est :
« De la conception à la définition système ». Les exposés seront suivis d'un déjeuner et de démonstrations d'applications.

Le mardi 25 novembre prochain aura lieu une conférence LTE chez MB Electronique au 606 rue Fourny à Buc (78530). Le thème défini pour cette journée « De la conception à la définition système » vous permettra d’échanger avec vos confrères et vos fournisseurs sur les problématiques auxquelles vous êtes confrontés au quotitien.

Cette journée est organisée conjointement par MB Electronique/Elektrobit et Anritsu France.

Les thèmes suivants seront traités :

«Introduction to LTE technology and the evolution to future Broadband Wireless Networks», par Jonathan BORRILL – Anritsu

« LTE Standards and Channel Model Recommendations », par Janne Kolu – EB

Conférence «Radio channel emulation for LTE Testing », par Janne KOLU – EB

Conférence «Test and Measurement solutions to support development of LTE and Broadband Wireless Networks», par Jonathan BORRILL – Anritsu

Inscription & renseignements : web, email, tél ou fax.

MB Electronique

Tel : 01 39 67 67 67

Fax : 01 39 56 53 44

e.gilbert@mbelectronique.f

Pour plus d'informations, consulter la page www.mbelectronique.fr.




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