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Catégorie : Test & Mesure 14/11/2008
Conférence « LTE (UTRA Long Term Evolution) & Broadband Wireless Networks»
Le thème défini pour cette journée organisée conjointement par MB Electronique/Elektrobit et Anritsu France est : « De la conception à la définition système ».
Les exposés seront suivis d'un déjeuner et de démonstrations d'applications.
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Le mardi 25 novembre prochain aura lieu une conférence LTE chez MB Electronique au 606 rue Fourny à Buc (78530). Le thème défini pour cette journée « De la conception à la définition système » vous permettra d’échanger avec vos confrères et vos fournisseurs sur les problématiques auxquelles
vous êtes confrontés au quotitien.
Cette journée est organisée conjointement par MB Electronique/Elektrobit et
Anritsu France.
Les thèmes suivants seront traités :
«Introduction to LTE technology and the evolution to future
Broadband Wireless Networks», par Jonathan BORRILL – Anritsu
« LTE Standards and Channel Model Recommendations »,
par Janne Kolu – EB
Conférence «Radio channel emulation for LTE Testing », par Janne
KOLU – EB
Conférence «Test and Measurement solutions to support development of
LTE and Broadband Wireless Networks», par Jonathan BORRILL –
Anritsu
Inscription & renseignements : web, email, tél ou fax.
MB Electronique
Tel : 01 39 67 67 67
Fax : 01 39 56 53 44
e.gilbert@mbelectronique.f
Pour plus d'informations, consulter la page www.mbelectronique.fr.
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