Catégorie : Test & Mesure     28/04/2009

NI : nouvelle suite logicielle WLAN Measurement pour LabVIEW

La nouvelle suite logicielle WLAN Measurement pour LabVIEW associée à l’instrumentation RF PXI définie de façon logicielle offre des mesures rapides et flexibles

La nouvelle solution de test WLAN

National Instruments annonce une nouvelle solution de test WLAN (Wireless Local Area Network), capable de générer et d’analyser des signaux de mesure RF quatre fois plus rapidement que toute autre solution d'instrumentation modulaire et jusqu'à 10 fois plus rapidement que les instruments traditionnels. Cette solution de test combine la nouvelle Suite NI WLAN Measurement pour les environnements de développement NI LabVIEW et LabWindows/CVI avec le matériel RF PXI Express 6,6 GHz de NI pour garantir une vitesse et une souplesse accrues en matière de test des normes IEEE 802.11 a/b/g. Dans la mesure où la solution est définie de façon logicielle, les ingénieurs peuvent facilement configurer le même matériel de mesure pour tester plus de six autres standards de communication RF dont les protocoles GPS, WiMAX, Bluetooth et RFID.

La Suite WLAN Measurement offre la cadence et la souplesse de mesure les plus élevées de l'industrie en s’appuyant sur une architecture définie de façon logicielle. Avec l’instrumentation définie de façon logicielle, qui combine matériel modulaire et logiciel défini par l’utilisateur, les ingénieurs peuvent profiter des toutes dernières avancées technologiques en termes de microprocesseurs comme le traitement multicœur et les techniques de programmation parallèle, pour atteindre des cadences de mesure inégalés dans l'industrie avec les instruments RF PXI Express 6,6 GHz. En outre, avec les capacités de programmation parallèle de LabVIEW, les temps de mesure RF par instrumentation PXI vont continuer de diminuer à chaque évolution des microprocesseurs multicœurs, optimisant ainsi les performances, augmentant la pérennité du système et diminuant l’investissement. Étant donné que l'instrumentation est définie de façon logicielle, les ingénieurs peuvent facilement personnaliser les mesures RF pour des produits multistandards, comme des systèmes sur circuit intégré (SOC), des téléphones mobiles et des radios, sans changer d’instrumentation.

La nouvelle solution de test WLAN se compose de l’analyseur de signaux vectoriels RF NI PXIe-5663 6,6 GHz, du générateur de signaux vectoriels NI PXIe-5673 6,6 GHz, du châssis à large bande passante 18 emplacements NI PXIe-1075 et du contrôleur double cœur NI PXIe-8106. Le NI PXIe-5663 peut effectuer une analyse des signaux de 10 MHz à 6,6 GHz avec une largeur de bande instantanée pouvant atteindre 50 MHz tandis que le NI PXIe-5673 permet une génération de signaux entre 85 MHz et 6,6 GHz avec une bande passante instantanée pouvant atteindre 100 MHz. Le châssis NI PXIe-1075 offre jusqu’à 1 Go/s de bande passante par emplacement et jusqu’à 4 Go/s de bande passante système totale. Ce système de mesure haut de gamme produit des mesures EVM (d'amplitude vectorielle d’erreur) résiduelles aussi basses que -44 dB. En conséquence, les ingénieurs peuvent utiliser le même système de mesure de la recherche et conception, pour lesquelles la précision des mesures est essentielle, jusqu’au test en production, où la vitesse des mesures est tout aussi primordiale.

La Suite WLAN Measurement se compose du Toolkit NI WLAN Generation et du Toolkit NI WLAN Analysis pour LabVIEW et LabWindows/CVI. Les deux toolkits sont fournis avec plusieurs exemples de programmes, qui aident les ingénieurs à s’initier rapidement aux applications de test automatisé. Les ingénieurs peuvent générer des signaux 802.11 a/b/g avec des vitesses de données comprises entre 1 Mb/s et 54 Mb/s avec le Toolkit WLAN Generation. Grâce au Toolkit WLAN Analysis, les ingénieurs peuvent effectuer des mesures de couches physiques (PHY), comme la puissance, l’EVM (l’amplitude vectorielle d’erreur), et le gabarit spectral.

Hormis ces avantages, les systèmes PXI de test RF effectuent chacune de ces mesures jusqu’à 10 fois plus rapidement que les autres plates-formes de mesure RF. Avec le contrôleur NI PXIe-8106, les mesures EVM se font en 8 ms seulement et les mesures de gabarit spectral de 66 MHz en 18 ms.

Pour en savoir plus sur la nouvelle Suite WLAN Measurement, rendez-vous sur www.ni.com/automatedtest/wlan.