Catégorie : Test & Mesure     24/09/2009

Agilent : nouveaux produits et applications à la conférence European Microwave 2009

Agilent Technologies présentera ses plus récentes solutions de test et mesure dans les domaines d'applications : RF et hyperfréquences, radars, transport et médical lors de la European Microwave Conference 2009 qui se tiendra du 28 septembre au 2 octobre à Rome.

Agilent exposera notamment les applications et nouveaux produits suivants:

• Analyseur de signaux de la série X
  
  
• Analyseur de réseau PNA-X pour la caractérisation complète de composants linéaires et non linéaires dans un seul instrument, tels que amplificateurs, mélangeurs, convertisseurs A/N et antennes. Le système permet aux utilisateurs d'effectuer des mesures différentielles de 50 GHz à 0,5 THz ainsi que des mesures pulsées.
  
  
• Analyseur de réseau vectoriel (NVNA), premier produit commercial intégré pour les mesures des paramètres X non-linéaires.
  
  
• Logiciel de conception et de simulation électromagnétique 3D EMPro 2009, et son intégration dans le Advanced Design System (ADS).
  
  
• Microscope à balayage hyperfréquence. Ce microscope utilise les microscopes à force atomique Agilent 5420 et 5600 et un PNA permettant de créer une combinaison puissante et unique pour les mesures électromagnétiques à l'échelle nanométrique. La technique permet les mesures d'impédance complexe (résistance et réactance), de capacitance et de densité de dopant calibrés ainsi que de topographie.