Catégorie : Test & Mesure     10/11/2009

NI organise une journée technologique sur le test automatisé et la validation temps réel, le 24 novembre 2009 à Nanterre

National Instruments organise, le 24 novembre prochain à Nanterre, dans ses locaux (2, rue Hennape), une journée consacrée au test automatisé et à la validation temps réel, qui s’adresse à ceux qui souhaitent automatiser des tests, envoyer des stimuli personnalisés en temps réel et valider des résultats grâce à un logiciel de conduite d’essais, tester un système intégrant un circuit intelligent, une régulation ou un modèle.

Ils pourront visiter l’exposition présentant des exemples de réalisation, des maquettes d’applications sur des stands NI et d’intégrateurs, et pourront également échanger des informations entre exposants et utilisateurs. Parallèlement à l’exposition, les visiteurs pourront assister à diverses conférences techniques, dont les suivantes :

• "Le point sur les nouvelles tendances technologiques du test automatisé", par Marc DJAOUI, National Instruments
• "Les instruments, logiciels et nouveautés permettant de réaliser des tests automatisés : séquenceur de test NI TestStand, PXI Express, test parallèle, RF, matrice d’insertion de défaut, partenariat avec Tektronix…", par Richard KEROMEN, National Instruments
• "Réalisation d’un instrument de gestion de protocole de communication basé sur du matériel FlexRIO au sein d’un banc de test automatisé chez ST-Ericsson", par Jean-Louis SCHRICKE, Mesulog
• "Des outils pour aller plus loin dans le test et mesure : nouvelles cartes d’acquisition Série X, streaming haute vitesse sur disque, solutions de test pour les cartes intelligentes", par Emmanuel ROSET, National Instruments
• "Nouveaux outils pour la validation et la conduite d’essais temps réel en réponse à des besoins concrets : validation de train d’atterrissage, test des efforts sur un pédalier avec un profil de force acyclique…", par Emmanuel ROSET, National Instruments
• "Réponses aux questions fréquentes : Comment interfacer mes modèles ? Que recouvrent les termes MIL, SIL et HIL ? Quelles différences y a-t-il entre NI TestStand et NI VeriStand ? ", par Richard KEROMEN, National Instruments