Catégorie : Test & Mesure     03/02/2010

Agilent : solution de test complète pour le PCI Express® 3.0

La Digital Test Console offre une grande mémoire tampon de capture ainsi qu'une interface de téléchargement rapide, avec de multiples options de sondes non-intrusives utilisant les dernières technologies ESP.

Agilent Technologies vient de présenter une solution de test PCI Express®3.0 ainsi que la Digital Test Console qui est, selon le constructeur, le premier ensemble analyseur de protocole x1 à x16 et exerciseur complet et intégré destiné au PCI Express 3.0 actuellement en développement au sein du PCI-SIG®.

La Digital Test Console offre un grand capture buffer et une interface de téléchargement rapide, avec de multiples options de sondes non-intrusives utilisant les dernières technologies ESP. Elle a été conçue de façon à contribuer au développement du PCIe 3.0 et à fournir des résultats de test précis.

Pour les ingénieurs de test et les laboratoires de validation, la transition vers le PCIe 3.0 entraîne des vitesses de bus plus élevées et nécessite une compatibilité ascendante. En outre, le PCIe 3.0 intègre un changement dans le schéma de cryptage ainsi qu'un nouveau protocole de pointe. La Digital Test Console de Agilent répond à ces exigences en offrant la technologie de sonde ESP ( Equalization Snoop Probe) pour la capture de données fiables à 8 GT/s ainsi qu'un exerciseur LTSSM pour valider le nouveau concept d'encodage et de machines d'état de protocole ; elle dispose en outre d'une interface utilisateur souple pour faciliter le débogage.

Pour plus d'informations, consulter le site www.Agilent.com.