National Instruments organise des journées techniques sur l’acquisition de données, en collaboration avec Kistler

National Instruments organise une série de journées techniques dédiées à l’acquisition de données, du 15 avril au 6 mai à Bordeaux, Strasbourg, Lille, Grenoble, Marseille, Rennes et Paris. Organisées en collaboration avec le fabricant de capteurs Kistler, ces journées seront composées de présentations faites par des ingénieurs et destinées à couvrir toute la chaîne de mesure, du capteur jusqu’à la mise en œuvre d’applications. Les conférenciers passeront notamment en revue les différents types de capteurs de mesure, leur interfaçage avec le matériel de conditionnement de signaux, les critères de choix du matériel d’acquisition de données, ainsi que la mise en œuvre d’applications de mesure. L’ensemble sera illustré de nombreux exemples et démonstrations, qui seront ensuite disponibles au téléchargement pour les participants.

À l’occasion de ces journées, les ingénieurs de NI expliqueront également l’apport des nouvelles technologies informatiques (Windows 7, la virtualisation sur PC, le multicœur…), pour les applications d’acquisition de données.

Calendrier :

15 avril à Bordeaux
20 avril à Strasbourg
22 avril à Lille
27 avril à Grenoble
29 avril à Marseille
4 mai à Rennes
6 mai à Paris

Chaque journée débutera à 9h00 pour s’achever à 16h00.

Pour connaître le programme détaillé et s’inscrire, les lecteurs peuvent visiter la section événements du site ni.com/fr ou appeler Christine RIO au 01 57 66 24 24.