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Catégorie : Test & Mesure 23/03/2010
ASTER annonce le premier logiciel DfT qui combine l’analyse électrique et
mécanique
A l’occasion du salon APEX 2010, ASTER Technologies, spécilaiste en analyse de testabilité et de couverture de test des cartes électroniques, présente le premier logiciel Design for Test (DfT) qui combine l’analyse électrique et mécanique.
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APEX 2010 - Las Vegas, 6-8 Avril
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ASTER Technologies présente à l’occasion du salon APEX 2010 le premier logiciel Design for Test (DfT)
qui combine l’analyse électrique et mécanique. Il a été développé pour
répondre à une nouvelle vision du marché. Les concepteurs de cartes
électroniques et les sous-traitants de fabrication doivent, ensemble,
relever de nombreux défis : compression des cycles de développement,
réduction des budgets et amélioration constante de la qualité des produits.
TestWay, la référence mondiale en analyse de couverture de test, permet à
ses utilisateurs de quantifier et qualifier la couverture pour de nombreux
équipements de test et d'inspection. Cet outil a été refondu pour aborder
les problèmes que rencontrent les concepteurs et les sous-traitants en
fabrication qui souhaitent optimiser les accès physiques pour le test, tout
en maintenant une couverture de test maximale.
“Probe Analyzer” est un logiciel interactif, piloté par règles d’analyse
mécanique spécifiquement conçues pour assister les ingénieurs de conception
et les développeurs de test. Il identifie rapidement les surfaces de cuivre
utilisables comme accès physiques. Taille des surfaces ciblées, contrôle des
distances, assignation des points de test, optimisation de la taille des
clous, offset sur les broches, BeadProbes de Agilent sont supportés en
parfaite harmonie avec les règles internes des industriels.
Dès que le placement des points de test a été réalisé, TestWay combine cette
information avec les capacités de mesure de l’équipement ciblé, pour estimer
la couverture pour le test ICT ou FPT. TestWay génère un rapport détaillé
d’accessibilité physique précisant la position du point de test retenue, ou
les violations des règles interdisant l’utilisation de certains points. Le
rapport est interactif avec le visualisateur de layout qui présente, sous
forme de code de couleur, les équipotentielles non testables.
TestWay procède à une analyse de couverture de test très sophistiqué qui
permet de décrire la ligne de production en combinant les tests ICT
(In-Circuit Test) ou FPT (Flying Probe Test) avec des techniques
d’inspection ou de test telle que AOI (Automated Optical Inspection), AXI
(Automated X-Ray Inspection), BST (Boundary-Scan Test) ou test fonctionnel.
Il estime la couverture avant le développement des tests en identifiant les
zones où l’efficacité est limitée compte-tenu de la violation de règles DfT
électriques.
L’estimation de la couverture basée sur l’analyse des contraintes mécaniques
de positionnement des points de test, accroît la visibilité sur la
performance réelle des tests qui pourront être développés.
“Dans le monde nouveau de l’électronique où ceux qui conçoivent ne sont plus
ceux qui produisent, nous avons besoin de nouveaux outils qui facilitent la
compréhension des deux groupes. Avec TestWay Probe Analyzer, les concepteurs
de cartes et les développeurs de tests pourront identifier en quelques
minutes les contraintes d’accès physiques et mesurer immédiatement les
conséquences en terme de couverture de test.” explique Christophe Lotz,
Directeur d’ASTER.
ASTER propose une large gamme de produits couvrant l’analyse DfT et la
couverture de test. Le client peut démarrer avec une configuration qui
répond à ces problèmes immédiats et pourra ultérieurement évoluer vers des
fonctions plus sophistiquées. TestWay est un produit hautement configurable
depuis TestWay Express pour l’analyse de couverture théorique (a priori) ou
réelle (a posteriori à partir des programmes de test), jusqu’à la version
TestWay-Classic qui ajoute un environnement programmable en mesure de
supporter les règles “utilisateur”, les critères d’optimisation des
programmes de test, le reporting avancé et la génération des données pour
les testeurs Boundary-Scan.
A propos d’ASTER Technologies
Fondé en 1993, ASTER développe un ensemble de produits traitant de la
testabilité, de l’analyse de couverture de test, de la visualisation du
schéma électrique et du placement routage, de la gestion qualité et de
l’aide à la réparation des cartes électroniques en production. TestWay est
une solution validée, largement déployée dans le monde entier qui fournit
une approche unique pour tenir compte des exigences de test très tôt dans la
chaîne de conception.
Pour plus d’information, visitez le
site de www.aster-technologies.com .
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