Catégorie : Test & Mesure     19/05/2010

Séminaire IEMN et Rohde & Schwarz : Caractérisation dans le domaine des ondes millimétriques et submillimétriques

Caractérisation « on wafer » Photo : Rohde & Schwarz

Ce séminaire gratuit – Jeudi 10 juin 2010 à l’IEMN Villeneuve d’Ascq (59) – présente plusieurs techniques de mesure ainsi que des développements de composantes et systèmes propres à ces gammes de fréquence.

Imagerie, télécommunications, spectroscopie, radioastronomie, …les EHF (Extremely High Frequency) et Térahertz sont au coeur de nombreuses sciences et applications qui font l’actualité. Depuis plusieurs années, l’Institut d’Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) et Rohde & Schwarz travaillent ensemble afin de faire évoluer aux meilleurs niveaux de performance les outils de test nécessaires à la mise en oeuvre des moyens expérimentaux. C’est pourquoi ils s’associent pour organiser un séminaire scientifique et technique sur la caractérisation dans le domaine des ondes millimétriques et submillimétriques.

Ce séminaire gratuit présente plusieurs techniques de mesure ainsi que des développements de composantes et systèmes propres à ces gammes de fréquence. Cette journée est l’occasion d’échanges entre les spécialistes, tant de la recherche que de l’industrie, sur les dernières innovations des thématiques à la croisée de la mesure et des micros & nanotechnologies. Par ailleurs, il est proposé, sur inscription, une visite du centre de caractérisation de l’IEMN dont les performances se situent au meilleur niveau européen.

Programme des présentations :

• 9H00 : Accueil des participants
• 9H15 : Mise en oeuvre d’analyseur de réseau vectoriel dans les gammes de fréquences millimétriques jusque 500GHz - Présenté par M. Hiebel, Rohde&Schwarz *
• 9H55 : Caractérisation « on wafer » sur Si dans le domaine millimétrique (paramètres S et bruit) - Présenté par M. Waldhoff, IEMN
• 10H35 : Pause
• 10H50 : Mélange froid en bande 140-220 GHz, sur des HEMTs GaN et InGaAs - Présenté par M. Ducournau, IEMN
• 11H30 : Nouvelle approche de la mesure de bruit en ondes millimétriques - Présenté par M. Hiebel, Rohde&Schwarz *
• 12H10 : Pause déjeuner offert
• 13H25 : Design des mélangeurs harmoniques pour les mesures d’ondes millimétriques - Présenté par M. Gibson, RPG *
• 14H05 : Analyse de spectre jusqu’au Térahertz - Présenté par M. Jean-François Lampin, IEMN
• 14H45 : Pause
• 15H00 : Technologie pour un système d’imagerie actif - Présenté par M. Evers, Rohde&Schwarz *
• 15H40 : Chaînes de multiplication large bande THz pour oscillateur local - Présenté par M. Maestrini, Observatoire de Paris
• 16H20 : Conclusion et discussions
      * Présentation en langue anglaise