National Instruments : premier analyseur de réseaux vectoriels RF au format PXI
Un module PXI double largeur destiné au test RF automatisé de précision, de 10 MHz à 6 GHz, une large gamme dynamique supérieure à 110 dB et des vitesses de balayage inférieures à 400 microsecondes/point sur 3 201 points.
National Instruments lance l’analyseur de réseaux vectoriels (VNA) deux ports 6 GHz NI PXIe-5630, le premier VNA de l’industrie du test automatisé disponible dans un facteur de forme PXI compact. Avec son support pour l’analyse vectorielle complète des paramètres de transmission et de réflexion (T/R), un calibrage automatique de précision et une architecture définie par logiciel évolutive, le nouveau VNA se prête parfaitement au test automatisé de validation de conception et en production. Son architecture PXI modulaire et sa compacité (deux emplacements) permettent aux ingénieurs d’intégrer de l’analyse de réseaux vectoriels dans leurs systèmes de test sans pâtir des coûts élevés ni de l'encombrement important des VNA de tables traditionnels.
Le NI PXIe-5630 est optimisé pour le test automatisé avec un ensemble de caractéristiques complètes comme le calibrage automatique de précision, l’analyse vectorielle complète sur les deux ports, des extensions de plans de référence et une API LabVIEW évolutive idéale pour le test parallèle. Cet analyseur de réseaux vectoriels offre également des performances élevées, avec une gamme de fréquences comprise entre 10 MHz et 6 GHz, une large gamme dynamique supérieure à 110 dB et des vitesses de balayage inférieures à 400 microsecondes/point sur 3 201 points. De plus, grâce à leur format PXI, les ingénieurs peuvent combiner jusqu’à huit modules NI PXIe-5630 dans un seul et même châssis PXI et effectuer du test RF multisite de façon véritablement parallèle.
Les ingénieurs peuvent contrôler le NI PXIe-5630 de manière interactive en utilisant sa face-avant détaillée, ou par programmation en utilisant les API pour les environnements NI LabVIEW (graphique) et NI LabWindows™/CVI (C ANSI). Les deux API sont optimisées pour le traitement multicœur afin de faciliter le test parallèle de plusieurs composants RF, ce qui offre un avantage considérable en termes de cadence sur les tests séquentiels commutés.
Le NI PXIe-5630 vient étoffer l’offre déjà étendue d’instruments modulaires PXI pour le test automatisé. Atout supplémentaire de son format PXI standard, le VNA s’intègre avec plus de 1 500 instruments PXI proposés par NI et plus de 70 autres fournisseurs afin de satisfaire les exigences de presque toutes les applications de test.
L’analyseur de réseaux vectoriels sera disponible au mois d’octobre 2010. Pour en savoir plus sur le NI PXIe-5630, visiter le site
www.ni.com/vna/f.
