National Instruments va ajouter des capacités de test automatisé LTE à son portfolio de produits PXI de test RF
Grâce à la nouvelle gamme MSO/DPO5000, aux améliorations apportées à la gamme MSO/DPO4000 et aux nouvelles sondes passives à large bande (doublement de la bande passante à 1 GHz et à la réduction de moitié de la charge capacitive d'à peine 3,9 pF) les concepteurs de systèmes intégrés bénéficient de performances et d'outils d'analyse optimaux.
National Instruments annonce l’ajout prochain de capacités de test LTE (Long Term Evolution) à son portfolio de produits de test RF avec la Suite NI LTE Measurement, qui fonctionnera avec des analyseurs et des générateurs de signaux RF au format PXI. Conçu pour tester les composants sans fil, les composants des sous-systèmes et les stations mobiles LTE 3GPP (3rd Generation Partnership Project), ce système de test défini par logiciel va fournir une solution rapide, flexible et précise pour les ingénieurs qui développent des systèmes de tests automatisés en production et en validation pour les produits LTE.
Basée sur l’approche logicielle de test automatisé de NI et sur l’instrumentation modulaire PXI, la solution proposée se compose du nouveau logiciel NI LTE Measurement Suite, de l’analyseur de signaux vectoriels 6,6 GHz NI PXIe-5663E, du générateur de signaux vectoriels 6,6 GHz NI PXIe-5673E et d’un châssis PXI équipé d’un contrôleur.
Les ingénieurs de test peuvent utiliser ce même matériel pour tester les normes sans fil et RF précédents ainsi que le LTE et d’autres normes de la prochaine génération. En considérant les premiers résultats obtenus, le système de test LTE peut garantir des précisions de mesure de modulation (EVM ou valeur efficace) de l’ordre -48 dB et des mesures automatisées trois ou cinq fois plus rapides qu’avec l'instrumentation traditionnelle.
La Suite LTE Measurement va rejoindre un portfolio déjà riche de solutions logicielles et matérielles NI dédiées au test de produits sans fil, suivant les normes GSM/EDGE, WCDMA/HSPA+, WiMAX Fixed/Mobile, LAN sans fil, GPS, AM/FM et Bluetooth. Le système de test LTE sert aussi de complément à des matériels de mesure RF proposés par National Instruments comme les générateurs de signaux, les analyseurs de signaux, les wattmètres et d’autres instruments DC et en bande de base. Comme avantage supplémentaire de sa configuration PXI définie par logiciel, le système s’intègre à quelque 1500 instruments PXI proposés par NI et 70 autres fournisseurs pour satisfaire les besoins de presque n’importe quelle application de test.
Pour en savoir plus sur la gamme complète de solutions de test de produits sans fil et RF proposées par NI, rendez-vous sur .
www.ni.com/rf/f.
