Catégorie : Test & Mesure     19/02/2011

NIDays 2011 : record d’affluence pour cette 14ème édition, 69 stands et 1102 visiteurs

La quatorzième édition française de NIDays - avec la participation exceptionnelle cette année de Hubert REEVES, éminent astrophysicien, venu partager sa vision de l’innovation dans la création de l’univers - a battu un record d’affluence avec 1102 visiteurs

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La quatorzième édition française de NIDays qui a eu lieu au CNIT de Paris La Défense, le 8 février dernier, a attiré 1102 visiteurs. C’est la première fois que le millier de personne est dépassé.

A noter la participation exceptionnelle cette année, en conférence plénière : d'Hubert REEVES, éminent astrophysicien, venu partager sa vision de l’innovation dans la création de l’univers, de Sébastien BOUTRUCHE (Directeur Général de Freebox SA), venu expliquer les besoins de la toute nouvelle Freebox (V6) en matière de test et les raisons du choix des produits PXI pour y répondre, et de James TRUCHARD (CEO et co-fondateur de National Instruments), qui a exposé la vision technologique de NI.

Comme les éditions précédentes, le rendez-vous annuel des ingénieurs, scientifiques et enseignants s’articulait autour d’une exposition permanente doublée de conférences et de cours organisés en parallèle :

• 2 conférences plénières en début de matinée et d’après-midi
• Une exposition de produits et solutions complémentaires proposés par les partenaires de NI, avec un nombre record de 69 stands, incluant trois pôles dédiés respectivement à l’enseignement, aux capteurs et à la vision/robotique
• 42 sessions d’initiation et conférences techniques organisées autour de 6 thèmes : Capteurs et acquisition de données, Logiciel, Test et instrumentation, Contrôle/commande et systèmes embarqués, Services, Enseignement et recherche et Applications d’utilisateur
• 12 heures de travaux pratiques, dédiées notamment à LabVIEW, aux outils de génie logiciel, au matériel d’acquisition de données, à la conception de systèmes embarqués ou encore au test temps réel et à l’instrumentation PXI.