Catégorie : Test et Mesure     11/10/2011

National Instruments : nouveaux modules PXI pour la caractérisation et le test des semi-conducteurs

Modules pour les essais sur semi-conducteurs

Avec des PPMU (unités de mesure numérique paramétrique par broche) et SMU (unités de source et mesure) : Le module PPMU NI PXIe-6556, avec ses E/S numériques haute vitesse à 200 MHz et les SMU NI PXIe-4140 et NI PXIe-4141, dotés de quatre voies, réduisent les coûts d’équipement, diminuent le temps de test et augmentent la flexibilité vis-à-vis des signaux mixtes pour un large éventail de matériels à tester.

National Instruments étoffe les capacités de sa plate-forme PXI en matière de caractérisation et de test de production avec de nouveaux modules PPMU (unités de mesure paramétrique par broche) et SMU (unités de source et mesure).

Le module d’E/S numériques haute vitesse NI PXIe-6556 permet, sur la même broche, de générer et acquérir un signal numérique à une fréquence allant jusqu’à 200 MHz, ou d’effectuer des mesures paramétriques DC avec une précision de 1 %, ce qui simplifie le câblage, réduit le temps de test et augmente la densité du système de test. En outre, les ingénieurs peuvent pratiquement éliminer le délai induit par les différences de longueur entre les câbles branchés au matériel à tester. En effet, la fonction intégrée de calibrage du cadencement permet de déterminer la longueur des câbles et d’ajuster le cadencement en conséquence. D’office, le module NI PXIe-6556 peut également être associé à un module SMU NI afin d’augmenter la précision des mesures, tout en permettant aux ingénieurs de déclencher des mesures paramétriques à partir de triggers matériels ou logiciels.

Les modules NI PXIe-4140 et 4141 offrent pour leur part quatre voies SMU par emplacement PXI Express et jusqu’à 68 voies SMU par châssis PXI sur 4U de hauteur de baie, ce qui simplifie le test de matériels dotés d’un grand nombre de broches. Avec leur fréquence d’échantillonnage allant jusqu’à 600 000 échantillons par seconde, ces modules permettent aux ingénieurs de réduire grandement leur temps de mesure ou encore de capturer pleinement les caractéristiques des transitoires du matériel. En outre, le NI PXI-4141 est doté de la technologie de nouvelle génération Source Adapt, qui permet aux ingénieurs de personnaliser la réponse en sortie du SMU à une charge donnée, pour une stabilité maximale et des temps de transitoires minimaux. Les technologies SMU classiques sont dépourvues de cette capacité.

Associés au logiciel de conception graphique de systèmes NI LabVIEW, ces nouveaux modules PPMU et SMU permettent de bénéficier de l’approche modulaire et définie par logiciel dans le cadre du test des semi-conducteurs en proposant une qualité supérieure, des coûts réduits et une diminution des temps de test tout au long de la validation, de la caractérisation et de la production. LabVIEW combine la souplesse d'un langage de programmation avec la puissance d'un outil technique avancé, ce qui permet aux utilisateurs de réaliser leurs projets quels que soient leurs besoins individuels.

Pour plus d’information visitez la page www.ni.com/lp/semiconductor