Acquisys, Aeroflex, Geotest et Pickering : Journée technique sur vos applications innovantes en Instrumentation PXI

Acquisys, Aeroflex, Geotest et Pickering vous proposent une journée technique gratuite le 30 Novembre 2011 sur les thèmes suivants :

9h00 : Paramètres d'un système de commutation

Michael Crespin - Pickering

Lors de la conception de bancs de test fonctionnels, il est primordial de prendre en compte tous les paramètres de mesure de l’instrumentation utilisée pour mieux définir la nature et le type des commutateurs à intégrer.

10h00 : Génération et acquisition numériques à hautes performances

Victor Fernandes - Geotest

Le besoin en test numérique d'aujourd’hui exige de nouvelles performances en terme de conditionnement, de vitesse, de grand nombre de vecteurs et de points de test, streaming, temps réel, le PXI apporte des réponses à ces questions.

11h00 : Conception d’un système de test basé PXI

Christian Ropars - Acquisys

Lors de cette phase, le choix des ressources est primordial pour la réussite du projet. Plusieurs critères devront être pris en compte pour réaliser les bons choix : PXI ou PXI Express, châssis, ressources adaptées contrôleur, commutation et interface de connexion.

12h00 Comment optimiser le coût de vos tests radiofréquence ?

Dominique Goblet - Aeroflex

Ou "Comment tester l'ensemble de vos fonctions RF (radiocommunications, avionique, Wireless) avec un même testeur reconfigurable PXI ?"

13h30 : Le châssis PXI et ses contraintes

Victor Fernandes - Geotest

Lors de la conception de bancs PXI, les éléments tels que le châssis, les alimentations ou la dissipation thermique sont des éléments à ne pas négliger lors du choix initial du châssis. Quelques éléments de réponse.

14h30 : L'autotest dans les systèmes de commutation

Michael Crespin - Pickering

Les matrices de commutation à haute densité sont très fréquentes dans les bancs de test. L’utilisation du BIRST (Built In Relay Self test) permet d’effectuer des autotests afin de détecter ou anticiper une panne du système.

15h30 : Solution unique de test combiné, in situ et fonctionnel

Ludovic Pernes - Aeroflex

Des composants analogiques aux boîtiers numériques, test in situ rapide et test fonctionnel étendu cohabitent dans un même châssis PXI pour améliorer investissements et coûts de test.

16h30 : Optimisation des performances d’un système de test basé PXI

Christian Ropars - Acquisys

Dans un système de test fonctionnel de grosse ou moyenne capacité, certaines ressources PXI pourront apporter des limitations en terme de performances ou de capacité. Des solutions de contournement existent notamment avec des systèmes PXI multiplateforme permettant d’obtenir le meilleur des performances.

Informations pratiques

Un café d'accueil vous attendra dès 8h00, et des pauses gourmandes vous permettront de visiter l'exposition et rencontrer les différents interlocuteurs entre les conférences.

Un cocktail déjeunatoire vous sera également proposé entre les sessions du matin et de l'après midi.

Pour vous inscrire à la journée technique qui se tiendra à Massy Palaiseau, le 30 novembre prochain au Novotel Massy Palaiseau merci de contacter par courriel ou par téléphone : www.aeroflex.fr/contact.htm ou www.acquisys.fr ou www.geotestinc.com ou www.pickeringtest.com

Pickering Interfaces - Des Matrices et Multiplexeurs RF / Hyperfréquence de haute qualité au standard LXI

Livingston : Location et vente d'appareils de test et mesure