Catégorie : Test & Mesure     02/05/2012

L’analyse statistique : une méthode de diagnostic de défauts sur circuits électroniques

Diagnostiquer des défauts sur des circuits électroniques nécessite de solides compétences et d’excellents outils de mesure. Disposer de plusieurs possibilités d’analyse de défauts permet en général d’en déceler plus rapidement les causes. Le traitement des résultats de mesure dans les domaines statistique et fréquentiel est généralement très précieux pour assister les concepteurs dans la recherche de défauts de leurs designs électroniques. Cela permet aux diagnosticiens de bénéficier d’une visualisation des données sous des angles différents.

La détection et le diagnostic de la distorsion de croisement dans un étage amplificateur push-pull illustré ci-dessous avec un histogramme est développée dans la Note d’application de LeCroy : Utilisation des histogrammes III

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