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Valeur crête, moyenne et efficace d'une tension
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Catégorie : Test & Mesure 24/09/2012
Agilent : journée de conférence le mercredi 24 octobre à l’occasion du Carrefour de l’Electronique
Agilent Technologies organise une journée de conférence sous le thème « Science Measurement Workshop: Bringing Measurement Excellence in Digital, RF & Microwave ».
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Agilent Technologies organise une journée de conférence sous le thème "Science Measurement Workshop: Bringing Measurement Excellence in Digital, RF & Microwave".
A l’occasion du Carrefour de l’Electronique, rendez-vous de l’industrie électronique française, Agilent Technologies, leader mondial de la mesure, met en place une journée de conférence le mercredi 24 octobre. Au cours de cette journée, des thèmes variés seront abordés, depuis l’analyse des liens numériques rapides, à comment gérer les formes d’ondes complexes, en passant par les mesures du Gigahertz au Terahertz.
Le calendrier complet de la journée comprend :
- 9h45 : Analyse d’interférence et contrôle de spectre avec un analyseur de spectre portable
- 10h45 : Comment adresser les formes d’ondes complexes de demain avec un générateur de fonction arbitraire haute précision et des analyseurs hautes performances
- 11h45 : Du Gigahertz au Terahertz : les essentiels des mesures de signaux très hautes fréquences
- 13h45 : Agilent présente le générateur de signaux vectoriels format PXI le plus rapide de l’industrie
- 14h45 : Conception et étude de canal avec signaux rapides en utilisant ADS
- 15h45 : Techniques de mesure sur signaux à front rapides et signaux séries
Pour plus d'informations : www.agilent.com.
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