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Valeur crête, moyenne et efficace d'une tension AC
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Catégorie : Test & Mesure     17/10/2012

Solutions de test à base de FPGA pour les technologies WLAN 802.11ac et Bluetooth basse consommation

Une nouvelle offre groupée pour le test de technologiesWLAN 802.11ac et Bluetooth basse consommation , qui combine la suite logicielle NI WLAN Measurement avec le VST (transcepteur de signaux vectoriels) NI PXIe-5644R à base de FPGA et NI LabVIEW pour créer des systèmes de test conçus par logiciel pour obtenir des performances élevées en matière d'amplitude de vecteur d'erreur (EVM) et une cadence des tests en production supérieure.


Test pour les technologies WLAN 802.11ac

National Instruments annonce de nouvelles solutions de test pour les technologies WLAN 802.11ac et Bluetooth basse consommation qui combinent le logiciel de conception graphique de systèmes NI LabVIEW et l’instrumentation modulaire PXI à base de FPGA pour offrir des capacités de test hautes performances qui sont complètement programmables par l’utilisateur.

Ces solutions de test associées aux autres solutions de connectivité cellulaires, de navigation et sans fil proposées par NI, aident les ingénieurs à réaliser sur une seule et unique plate-forme des test de caractérisation et en production avec une amplitude du vecteur d'erreur (EVM) de -46 dB RMS pour 256 QAM. En outre, il disposent de la capacité à effectuer des mesures et à exécuter des algorithmes personnalisés sur le FPGA embarqué du VST NI PXIe-5644R un test temps réel accéléré.

White paper sur les mesures WLAN : www.ni.com/white-paper/14058/en.



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