Catégorie : Test & Mesure     7/11/2012

Tektronix introduit la suite de test automatisée de Tx et de Rx PCI Express 3.0 complète

Tektronix, Inc., premier fabricant mondial d'oscilloscopes, a annoncé aujourd'hui la solution complète de test de conformité et de débogage automatisée d'émetteur (Tx) et de récepteur (Rx) très souple et complète pour la norme PCI Express 3.0. Avec les nouvelles améliorations apportées à la série de testeurs de taux d'erreur de bits BERTScope et au logiciel de test PCI Express, Tektronix propose désormais aux concepteurs de silicium, d'hôtes et de cartes un guichet unique pour les tests PCI Express 3.0.

Au fil des générations qui se sont succédées, PCI Express a gagné en rapidité et en complexité. À des vitesses de 8 Gb/s, les tests réalisés avec PCI Express 3.0 comportent le conditionnement sous stress complexe de Rx, le test de conformité de BER et de nombreux tests de conformité de Tx. Un support de test complet est également nécessaire pour le débogage des conceptions qui échouent aux tests. Avec les dernières mises à jour, Tektronix propose à présent le niveau de support le plus intégré pour l'automatisation des tests de couche PHY et le débogage de PCI Express 3.0.

« De nombreux aspects des tests PCIe3, comme par exemple la formation de liaison (link training) ou la caractérisation d'égalisation de Tx, sont extrêmement complexes ou mal compris par la communauté des concepteurs », explique Brian Reich, directeur général de Performance Oscilloscopes chez Tektronix. « En proposant un kit d'automatisation robuste, nous facilitons les tests PCIe3 complexes tout en assurant des résultats plus cohérents. Autrement dit, les tests longs et complexes tels que l'étalonnage d’œil sous stress ou les tests de conformité d'émetteur n'ont plus besoin d'être effectués exclusivement par des ingénieurs chevronnés. »

Pour les tests de Rx PCIe3, la génération de modèle sous stress telle que requise par les spécifications de test PCI-SIG est automatisée et comprend désormais le support intégré des tests de multiplication d'horloge et d'ouverture d’œil. En outre, le contrôle de bouclage DUT est automatisé, ce qui simplifie le processus de test et écourte le délai nécessaire pour obtenir les résultats des tests. Parmi les améliorations qui rendent ces fonctions possibles, citons le nouveau DPP125C, qui ajoute de la pré-accentuation au modèle sous stress, le nouveau combinateur à interférences intégré BSAITS125 avec ISI variable, et le nouveau logiciel de calibrage, de bouclage et de formation de liaison automatiques BSAPCI3. Les autres composants qui constituent la solution complète Rx comprennent un générateur arbitraire/de fonction AFG3000 Tektronix pour les tests courants d'interférence de mode et la solution de bande passante de boucle PLL basée sur l'unité de classe mondiale de récupération d'horloge de série CR286A. Ces compléments au BERTScope éliminent le besoin de recourir à des modules complémentaires produits par des sociétés tierces.

Pour les tests de Tx PCIe3, Tektronix a renforcé sa solution en intégrant le logiciel utilitaire SigTest de PCI-SIG pour les tests de conformité directement dans son cadre d'automatisation TekExpress sur les oscilloscopes numériques DSA70000 Tektronix. Grâce à cette intégration, le logiciel PCE3 mis à jour automatise le contrôle des instruments de test et du DUT, la validation de modèle, l'acquisition et l'analyse des données avec SigTest, et permet des rapports personnalisés sur plusieurs résultats SigTest. Le logiciel PCE3 permet également une transition en douceur vers le débogage en cas d'échec des tests de conformité.

Pour en apprendre davantage sur la gamme de solutions de conformité électrique, de débogage et de validation de Tektronix pour les tests de Tx et Rx de PCI Express 3.0, y compris une vidéo de synthèse de 30 minutes, rendez-vous à l'adresse : www.tek.com/technology/pci-express.