Catégorie : Test et Mesure     10/09/2013

enova PARIS presente le nec + ultra des technologies du 8 au 10 octobre 2013

enova PARIS (Carrefour de l’électronique – Mesurexpovision – Opto et RF&Hyper), c’est 4 univers technologiques réunis qui en font la plus importante manifestation professionnelle nationale dédiée à la Recherche et l’Industrie. 400 exposants donnent rendez-vous à 8 000 visiteurs du 8 au10 octobre à Paris expo Porte de Versailles. L’attractivité technologique et scientifique du salon se traduit aussi par ses Espaces d’animation et son programme de Conférences qui permettront aux visiteurs d’approfondir ou découvrir des technologies et usages des plus avancés, notamment :

• Les Ateliers du Test (Simtec), sont composés d’un espace d’animation et de conférences sur les thèmes : « test en production, « test en réparation », «test FPGA » et « maintenance et métrologie ».


• L’Espace Systèmes Embarqués (Cap’Tronic) accueillera des PME et TPE du domaine de l’embarqué, des centres de compétences privés, publics et des grandes entreprises. Les conférences des « matinales de l’embarqué » traiteront du « Logiciel embarqué et M2M sous un angle juridique », de la mise en oeuvre « de Microsoft Embedded et développement d’IHM » et «d’OS Linux et Android et leurs contraintes respectives ».


• L’Espace Systèmes communicants (IETR et LCIE BUREAU VERITAS) est dédié aux systèmes communicants où seront regroupés des laboratoires français de renom et des PME-PMI innovantes du secteur des télécommunications. Des conférences renforceront ces thématiques présentées sur « Les antennes miniatures », « le bâtiment intelligent », «CEM : dernières évolutions réglementaires et normatifs » et « l’impact sur l'environnement électromagnétique »


• L’Espace emploi et formation (Opticsvalley), via le site www.job-hightech.fr offre un service de mise en relations pour toute entreprise et candidat dans le domaine high-tech.


• Les conférences liées à la campagne “Productivez !” du Symop traiteront de la mesure et du contrôle avec par exemple la métrologie 3D, les capteurs intelligents & 3D, l’imagerie pour le CND, la mesure sans contact & dynamique et les machines optiques multisensors…
• Le Contrôle non destructif sera à l’honneur au travers de la conférence «CND : Les avancées actuelles » (Université de Reims Champagne, Reims).

• Le 16ème Congrès international de Métrologie (7-10 octobre), carrefour d'échanges entre industriels et scientifiques, accueillera un millier de participants représentant une cinquantaine de pays (CFM).


• Le 2ème Congrès francophone des applications des fibres optiques (8-10 octobre) permettra de partager les savoir-faire ou retours d'expériences dans les domaines de mises en oeuvre des FO (Club Optique et GL events).



Pour plus d'informations consulter le site : www.enova-event.com.