Catégorie : Test et Mesure     17/11/2013

Tektronix offre un Webcast gratuit au sujet « Une approche pratique des diagnostics EMI »

Il est de ce fait, les problèmes CEM sont coûteux et prennent du temps à résoudre. Bien qu'il n'y ait pas de réponses faciles à l'EMI, ce n'est pas aussi ardue à ce qui l'y paraît. Matthias Charriot, Ingénieur Applications expérimenté de Tektronix, donne un webminaire d’une heure sur les tenants et aboutissants du test EMI.

Le webminaire mettra en pratique la théorie CEM qui vous aidera à appréhender avec plus de succès vos test EMI. Matthias Charriot partagera les problèmes EMI les plus récurrents qu'il voit dans les designs actuels et passera en revue les techniques pour diagnostiquer et isoler ces sources fugitives d'EMI.

Les participants peuvent découvrir les dernières méthodes de tests pour les diagnostics EMI, incluant comment une technologie de percée comme l'Oscilloscope à Domaines Mixtes a fondamentalement changé l'approche pour les ingénieurs de tester l'EMI.

On peut y apprendre:

• Les techniques pour scanner les problèmes EMI
• L'optimisation de la plage dynamique par rapport à la vitesse et à la sensibilité
• Les considérations de sondes, champ proche ou champ lointain ?
• Une vue globale des compromis de mesure lorsque l'on utilise un oscilloscope et un analyseur de spectre pour tester l'EMI
• Les techniques pour traquer jusqu'à la source les problèmes EMI dans les deux domaines temporel et fréquentiel.