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Catégorie : Test & Mesure 30/06/2014
Agilent Technologies : solution de test multi-canal basée PXI pour générer et analyser les formes d'ondes LTE / LTE-Advanced
| Cette solution permet aux ingénieurs d'acquérir une compréhension approfondie des concepts d'agrégation de porteuses et de multiplexage spatial MIMO |
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Agilent Technologies vient d'annoncer une solution de test basée PXI-LTE LTE-Advanced multi-canal qui permet d'accélérer la mise en place de configurations de systèmes de test multi-canal et d'acquérir une compréhension approfondie des concepts d'agrégation de porteuses et de multiplexage spatial MIMO.
La conception et la caractérisation de composants et sous-systèmes RF tels que stations de base, microcellules, picocellules, répéteurs et appareils mobiles deviennent de plus en plus complexes étant donné que les concepts multi-antennes nécessitent des configurations de test multi-canal toujours plus sophistiquées. La nouvelle solution de test de Agilent fournit des outils permettant de générer des signaux multi-canal LTE / LTE-A/MIMO complexes et d'analyser simultanément des canaux multiples dans les domaines de fréquence et de modulation. L'interface utilisateur graphique conviviale réduit le temps nécessaire à la mise en place d'une configuration de test. En outre, les paramètres de mesure sont optimisés pour la technologie d'agrégation de porteuses LTE / LTE-Advanced et MIMO.
L'outil trigger fond de panier de la solution de test configure et route les signaux de déclenchement pour une synchronisation temporelle appropriée des configurations MIMO, avec un maximum de deux châssis PXIe. Des tests MIMO synchronisés (2x2 ou 4x4) sont aisément réalisés en utilisant des générateurs (M9381A) et analyseurs (M9391A) de signaux vectoriels PXIe de Agilent avec un EVM de moins de 0,38% et une synchronisation de temps entre canaux de moins de 20 ns. De plus, la génération et l'analyse des signaux avec une bande passante de 160 MHz permettent de gérer les applications d'agrégation de porteuses LTE-Advanced les plus larges.
Pour plus d'informations sur les solutions de test multi-canal LTE-A et pour participer au webcast gratuit "Addressing Design and Test Challenges for the New LTE-Advanced Standard" :
www.agilent.com/find/solution-LTE.
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