Catégorie : Test & Mesure     06/03/2007

JTAG : séminaire gratuit IEEE-1149.X - BOUNDARY-SCAN

Relever les défis DFT au niveau composant, carte et système - Date : Mercredi 21 Mars 2007 Lieu : Grenoble - Hôtel Europole

Formulaire d'invitaion

JTAG nous informe de la tenue d'un séminaire gratuit sur le thème de Boundary-Scan DFT (Design For Test). Les participants apprenderons comment une stratégie Boundary-Scan DFT (Design For Test) peut permettre d’optimiser la couverture des tests et la résolution des diagnostics face à la complexité des cartes et architectures système à signaux numériques ou mixtes. Documents fournis:

• Classeur support de présentation
• Copie de l’édition, «Opportunité des tests Boudary-Scan » version française.
• Copie de l’édition, « testabilité intégrée à la conception de carte » version française.
• Copie de l’édition, « testabilité intégrée à la conception de système » version française.

• Principes de base IEEE 1149.X (Boundary Scan)
• Implanter le Boundary-Scan au niveau carte (règles DFT - Design For Test)
• Technique Boundary-Scan au niveau système
• Cas concret d’intégration Boundary-Scan dans un testeur fonctionnel (Test et Programmation)
• Stratégie d’intégration Boundary-Scan dans les testeurs In Situ et à sondes mobiles
• Démonstration nouvelles solutions de test et programmation ProVision de JTAG Technologies.